2007年12月6日，由日本精密工学会画像处理专业委员会主办的2007年外观检查算法竞赛Alcon2007举行了颁奖典礼，法视特（上海）图像科技有限公司以77.6分获得了第一名，高出第二名11.4分。
    为了促进基于图像的外观检查技术的发展，日本精密工学会图像应用技术专业委员会与研究人员和技术人员一起，推进着通用外观检查图像数据库的建设。作为重要的一部分，图像应用技术专业委员会从2001年开始组织外观检查算法竞赛。竞赛以实际应用为背景，使用实际制造现场产生的图像作为比赛的对象，逐渐广为人知。
    比赛过程为：每年7月公开题目和样本图像，7月底前接受报名，9月中下旬提交结果：程序可执行文件、使用说明和简单的算法说明。十一月初得到比赛结果，12月初日本图像展进行的同时，会有全国性的学术交流会，在这个会上对前三名颁奖并有5分钟的演讲；并且参加学术交流会的POST交流会。
    2007年外观检查算法竞赛的题目是《半导体模式上显著缺陷的检查》，含有缺陷的图像例子如图所示。这是极具代表性的并具有相当难度的课题，评价图像中的外观缺陷类型也具有广泛的代表性。相当多的产品生产过程中都可能有类似的外观缺陷。因此，相关课题在工业生产的质量控制中将具有非常广泛的应用。FAST公司具有长期从事缺陷检查的经验，尤其是在平面显示器检测方面。FV-Pixellence适合于以LCD为代表的平面面板的点灯检测，玻璃、胶片、金属等平面的瑕疵、污垢检测等，是平面对象物体表面检测最适合的图像处理系统。利用FAST独特的图像处理技术，可检出低对比度的缺陷及Shimi、Mura缺陷。法视特公司将继续开发快速、稳定、通用的机器视觉产品，为广大用户服务！

 比赛结果

颁奖

POST交流会

  有缺陷的图像