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您所在的位置:中国视觉网 >> 新闻 >> 业内要闻 >> [图文]西努光学新品SQM非接触式深度测量工具显微镜  
西努光学新品SQM非接触式深度测量工具显微镜
作者西努光学 文章来源中国视觉网 点击数:   更新时间:2007-11-21

据本网记者近日获悉,西努光学针对工业测量领域,融合多年市场服务经验,为您荣誉呈现SQM系列测量显微镜.

 
    SQM非接触式深度测量工具显微镜其特点:数字成像和影像处理测量技术;操作舒适;更大的载物台400×200的测量行程提高了对工件的处理能力;非接触Z轴高度测量与数据处理系统的协同工作;低倍率到高倍率轻松搞定;多种照明的选择总有一款能够辨清最细微的差别。
    更详细的资料请登录www.cinv.cn资料下载栏目下载;电话:0512-67508263

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