4月22日，北京——凌华科技主办的“ADLINK DAY——2008年测量与自动化技术国际高峰研讨会”圆满结束。安捷伦科技、东芝泰力株式会社、日本CCS株式会社、艾法斯亚洲有限公司和北京领邦仪器技术有限责任公司等众多国际知名厂商在会上都做了精彩的演讲和展示。

　　会议主会场首先由凌华董事长刘钧先生致辞，他指出高速、分布式、模块化是国内外量测与自动化技术的发展趋势。凌华副总高明和先生作了“新一代量测自动化计算机与接口的发展新趋势”的报告，东芝泰力株式会社副总河上和之作了“数字工业相机的趋势与技术介绍”的报告。安捷伦科技展示了USB模块化仪器简化的测试系统。

　　凌华科技董事长刘钧表示：“凌华举办ADLINK DAY的目的，不仅是凌华的品牌活动，更通过汇集国际知名厂商，为量测与自动化产业的发展提供趋势导向和技术分享。通过先进的量测与自动化技术的应用介绍，顺应中国产业结构调整和产业升级的大趋势，为国内量测和自动化领域的用户提供先进的应用解决方案。”

　　下午时段的3个分会场分别就军工测试系统、电子制造设备中的AOI检测、手机信号相关测试应用3个专题进行了探讨。除了精彩的演讲，来自众厂商的最新产品和解决方案也在同一时间集体亮相，展品包括PXI量测平台、数据采集卡和图像采集卡、工业相机以及Compact PCI平台等等。