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赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代45nm非易失性存储器设备调试和设计特性分析
作者:佚名 文章来源中国半导体制造业的技术权威网站 点击数:   更新时间:2008-4-15

首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布,为非易失性存储器(NVM)市场提供知识产权解决方案的领导厂商赛凡半导体有限公司已经同意购买七套V5000e系统,对其下一代非易失性存储器(NVM)设备进行设计检测和调试,包括第一个45nm设计的产品。


         赛凡是在与其它主要竞争对手进行比较基准测试之后选择V5000e的。赛凡发现,惠瑞捷的解决方案提供了使用最简便、最先进的调试工具。V5000拥有大量的安装客户群,也使得赛凡能够更好地兼容其新的母公司Spansion公司(NASDAQ: SPSN)及其客户和合作伙伴。


         赛凡提供了NVM技术,无需使用电源就可以保留信息。该技术用于各种电子产品中,包括电话、静态和视频数码相机、个人数字助理(PDA)、便携式计算机、便携式数字音乐播放器、数字录像机、机顶盒和数字电视。赛凡独特的NROM技术被视为当前市场上密度最高的技术,因为它采用突破性的架构,可以将基础半导体存储器单元的存储容量翻一番或两番,同时仍然允许半导体制造商减少制造步骤,进而降低制造成本。


         赛凡半导体有限公司测试部经理Shay Galanti表示:“我们选择惠瑞捷的原因有很多,V5000e简便易用的调试功能对我们尤为重要。我们将使用惠瑞捷测试设备,为尖端的45nm设计进行特性分析,高效调试可以节约大量的成本。”


         惠瑞捷半导体科技有限公司销售副总裁Pascal Ronde表示:“对竞争激烈、快速发展的NVM市场中的赛凡等公司来说,每个生产力优势对其成功都至关重要。这样一个富于创新的公司在进行全面的评测后选择我们的解决方案,我们感到非常荣幸。”

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